更新時(shí)間:2024-08-03
薄型便攜式薄膜厚度計(jì),可通過短時(shí)間測量滿足時(shí)代需求·重量輕,體積小2.0 kg· 測量開始的同時(shí)開關(guān),測量時(shí)間在1秒以內(nèi)·高穩(wěn)定性(±1%)高精度·無損,因?yàn)榫w振蕩檢測方法·直讀式轉(zhuǎn)換不必要 日本電測膜厚計(jì)D-20
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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薄型便攜式薄膜厚度計(jì),可通過短時(shí)間測量滿足時(shí)代需求
·重量輕,體積小2.0 kg·
測量開始的同時(shí)開關(guān),測量時(shí)間在1秒以內(nèi)
·高穩(wěn)定性(±1%)高精度
·無損,因?yàn)榫w振蕩檢測方法
·直讀式轉(zhuǎn)換不必要
輕巧緊湊
我可以隨身攜帶它。
可以立即進(jìn)行測量
可以在打開開關(guān)的同時(shí)進(jìn)行測量。測量時(shí)間也在1秒內(nèi)。
高穩(wěn)定性(±1%)高精度
通過晶體振蕩方法實(shí)現(xiàn)高穩(wěn)定性(±1%)的高精度。
可以檢查
由于它是非破壞性的,因此可以進(jìn)行檢查。
無需轉(zhuǎn)換
無需直接閱讀和轉(zhuǎn)換。
支持各種測量
可以在金屬,電鍍,涂漆,樹脂等上測量薄膜。(例如:鋁上的氧化膜,鐵上的鋅等鍍層,涂漆)。
它成為各種測量儀器
通過簡單地更換刻度板,它就成為各種測量儀器。
測量面積3 mm2或更多
對應(yīng)于3 mm2或更大的測量面積。
非金屬上金屬薄膜的測量
它可以測量非金屬上的金屬薄膜(例如塑料上的鍍層)。
在曲面,球體或管道內(nèi)也可以進(jìn)行測量
也可以測量彎曲或球形體。另外,也可以測量管道等的內(nèi)表面(φ12.7mm或更大)。
當(dāng)具有高頻電流的探針(探針線圈)靠近金屬時(shí),在金屬表面中產(chǎn)生渦電流。該渦電流受高頻磁場的強(qiáng)度和頻率,金屬的導(dǎo)電性,厚度和形狀等的影響,并且穿透深度和其尺寸不同。 并且,由于渦電流流動(dòng)以抵消探頭的高頻磁場,因此探頭的高頻電阻值發(fā)生變化。這種高頻電阻的變化被放大并顯示在儀表上。通過這樣做,可以從儀表的跳動(dòng)中讀取膜厚度值。由于薄膜厚度值和儀表的偏差通常不成比例,因此使用直接讀數(shù)盤直接讀取薄膜厚度值。 |
電源 | 8節(jié)AA電池,使用AC適配器時(shí)AC 100 V. |
重量 | 2.0千克 |
維 | 250(W)×89(D)×186(H)mm |
振蕩頻率 | A 107.8 kHz B 431 kHz C 1725 kHz D 6.9 MHz |
注意:規(guī)格如有更改,恕不另行通知。
1.探頭的效果范圍使用精密探頭時(shí) | Fai5mm Fai3mm |
2.探針線長度 | 900毫米 |
3.根據(jù)導(dǎo)軌類型在曲面上測量 | |
4.探針類型 | MP型...用于平凸凹面(標(biāo)準(zhǔn)) SM型...用于平凸凹面(非常?。?br />RP型...凹面, SR型用于管道內(nèi)表面...用于 上述小直徑管內(nèi)表面的探針C和D有4種類型。 |
5.探針指南 | #180:用于平面測量 #120 :用于φ25-60mm 凸面測量#90:用于φ30mm或更小的凸面測量 |
日本電測膜厚計(jì)D-20 日本電測膜厚計(jì)D-20
TQ-50NG16
TQ-100NG16
TQ-150NG16
TQ-200NG16
TQ-300NG16
TQ-500NG16
TQ-1KNG16
TQ-1.5KNG16
TQ-2KNG16
TQ-3KNG16
TQ-4KNG16
TQ-5KNG16
TQ-7KNG16
TQ-10KNG16
TQR-200MNA32
TQR-500MNA32
TQR-1NA32
TQR-2NA32
TQR-3NA32
TQR-5NA32
TQT-2NB57M2G4
TQT-5NB57M2G4
TQT-10NB57M2G4
TQT-20NB57M2G4
TQT-30NB57M2G4
TQT-50NB57M2G4
TQT-70NB57M2G4
LC-10KNE450
LC-20KNE450
LT-5KNG56
LT-10KNG56
LT-20KN
PG-200MPG7
PG-300MPG7
PG-400MPG7