日本三高薄膜厚計 SWT-9000N

更新時間：2024-08-01

簡要描述：

◆測量范圍廣泛，范圍從0到2.0 mm
◆即時測量，零和標準調(diào)整
◆測量范圍廣泛，范圍從0到2.0 mm
◆即時測量，零和標準調(diào)整
日本三高薄膜厚計 SWT-9000N

型號：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：634

品牌	SANKO/日本三高	產(chǎn)地類別	進口

測量范圍	0至2.00毫米
顯示分辨率	1μm：0至999μm 　切換0.1μm：0至400μm0.5μmμm 　　　　　?。?00至500μm0.01mm ：1.00至2.00 mm
測量精度	0至100μm：±1μm或±2％的指示值 101μm至2.00 mm：均勻表面的±2％以內(nèi)
顯示方法	LCD數(shù)字顯示屏保持
記憶	校準曲線×1
探測器	1點恒壓接觸式，帶V型切口，φ13×47 mm
電源	AA電池（1.5 V）×2自動關機
工作溫度	0至40°C（無冷凝）
尺寸重量	72（W）×30（H）×156（D）mm，約270g
附件	標準厚板，測試零板，儲存箱

測量范圍	0至2.00毫米
顯示分辨率	1μm：0至999μm 　切換0.1μm：0至400μm0.5μmμm 　　　　　　：400至500μm0.01mm ：1.00至2.00 mm
測量精度	0至100μm：±1μm或±2％的指示值 101μm至2.00 mm：均勻表面的±2％以內(nèi)
顯示方法	LCD數(shù)字顯示屏保持
記憶	校準曲線×1
探測器	1點恒壓接觸式，帶V型切口，φ13×47 mm
電源	AA電池（1.5 V）×2自動關機
工作溫度	0至40°C（無冷凝）
尺寸重量	72（W）×30（H）×156（D）mm，約270g
附件	標準厚板，測試零板，儲存箱

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